調:TOF-SIMS

Kirsten Leufgen1, Manfred Mutter, Horst Vogel

  • 1Laboratory of Physical Chemistry of Polymers and Membranes (LCPPM), Institute of Biomolecular Sciences (ISB), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL), CH-1015 Lausanne, Switzerland.

まとめ

表面の分子指向を制御することは,機能化にとって極めて重要です. この研究は,飛行時の二次イオン質量スペクトロメトリ (TOF-SIMS) が自己組み立て中に分子指向を調整することができ,表面特性を正確に制御することを示しています.

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