Alon Orlitsky1, Narayana P Santhanam, Junan Zhang
1Department of Electrical and Computer Engineering, University of California, San Diego, La Jolla, CA 92093, USA. alon@ucsd.edu
研究者は確率推定器を分析し,グッド・チューリングの推定器は弱衰が低いことを発見した. 新しい推定器が1の減衰率で開発され,シーケンス確率を過小評価しないようにしました.
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