Science (New York, N.Y.)
|February 26, 1982
PubMed
まとめ

遅延光放射 (DLE) 画像は,大豆の葉に二酸化硫黄が誘発したストレスを効果的に検出します. このテクニックは,減少したDLE強度と目に見える損傷を相関させ,植物ストレス研究を支援します.