X difrraction26.5

Science (New York, N.Y.)
|March 4, 1988
PubMed
まとめ

研究者らは,シンクロトロンX線 difraksionを用いて26.5GPaまでの固体水素の構造と状態方程式を正確に測定した. これは正確なデータを提供し,以前の不一致を解決し,将来の高圧移行予測を制限します.