Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy
Atomic Force Microscopy
Overview of Microscopy Techniques
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U Kemiktarak1, T Ndukum, K C Schwab
1Department of Physics, Boston University, Boston, Massachusetts 02215, USA.
この研究は,共振回路から反射された信号を測定することによって,スキャニングトンネル顕微鏡 (STM) の時分辨率を10MHzまで高めます. このブレークスルーにより,より迅速な表面画像と繊細なナノスケール測定が可能になります.
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