Imaging Biological Samples with Optical Microscopy
Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy
Super-resolution Fluorescence Microscopy
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Updated: Jun 24, 2026

High-speed Particle Image Velocimetry Near Surfaces
Published on: June 24, 2013
Mark A Foster1, Reza Salem, David F Geraghty
1School of Applied and Engineering Physics, Cornell University, Ithaca, New York 14853, USA.
研究者らは,超高速光学波形測定のための新しいシリコンフォトニクス技術を開発しました. この方法は220-fsの解像度を達成し,高度な光学信号処理および計量学のアプリケーションを可能にします.
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