Structures of Solids
Network Covalent Solids
Gauss's Law: Planar Symmetry
Imperfections in Crystal Structure: Point, Line and Plane Defects
こちらも読む
共著者、ジャーナル、引用グラフによってこの研究に関連する記事。
Updated: Apr 13, 2026

Atom Probe Tomography Studies on the CuIn,GaSe2 Grain Boundaries
Published on: April 22, 2013
Pinshane Y Huang1, Carlos S Ruiz-Vargas, Arend M van der Zande
1School of Applied and Engineering Physics, Cornell University, Ithaca, New York 14853, USA.
大規模なグラフェン生産は,避けられない穀物境界につながります. 新しい顕微鏡では,これらの境界線が機械的強度を弱めながらも,電気的性質に最小限の影響を及ぼし,2Dの材料制御の洞察を提供することを明らかにしています.
科学分野:
背景:
研究 の 目的:
主な方法:
主要な成果:
結論: