摩擦アニソトロピー駆動ドメインイメージングは,剥落された単層グラフェンで行われます
Jin Sik Choi1, Jin-Soo Kim, Ik-Su Byun
1Division of Quantum Phases and Devices, Department of Physics, Konkuk University, Seoul 143-701, Korea.
まとめ
摩擦力顕微鏡を用いて,剥落されたグラフェンで摩擦力が異なるドメインが発見されました. これらのドメインは,波紋とパックリングによって引き起こされ,適用された負荷によって変化するアニゾトロプ的摩擦を示します.
科学分野:
- マテリアルサイエンス 材料科学
- 表面科学とは,地表科学である.
- ナノテクノロジー ナノテクノロジー
背景:
- 剥落されたグラフェンは,理論的な予測と比較して,しばしばパフォーマンス上の問題を表しています.
- 構造的および電子的欠陥は,グラフェンの性能低下の疑わしい原因である.
研究 の 目的:
- 剥落された単層グラフェンの性能の変動の原因を調査する.
- グラフェン表面の摩擦領域とその性質を特徴付けるために.
主な方法:
- 摩擦力顕微鏡 (FFM) を用いて摩擦特性を測定した.
- 摩擦アニソトロピーを分析するために角度依存スキャニングを行った.
- 摩擦行動の変化を観察するために,異なる負荷を適用した.
主要な成果:
- 脱皮された単層グラフェンに異なる摩擦特性を有する異なるドメインが観察されました.
- 各領域内で180°周期摩擦アニソトロピーを発見した.
- 摩擦アニソトロピーは,適用された負荷の増加とともに減少することを発見しました.
結論:
- グラフェンのリップル歪みが観測された摩擦領域につながることを提案した.
- これらの波紋内のアニソトロピックなひび割れがアニソトロピックな摩擦を引き起こすと仮定した.
- 波紋誘発ドメインが,剥離されたグラフェンの変数性能の重要な要因であることを示唆しています.
関連する概念動画
Atomic Force Microscopy
Atomic force microscopy (AFM) is a type of scanning probe microscopy that can analyze topographic details of various specimens like ceramics, glass, polymers, and biological samples. AFM offers over 1000 times more resolution than the optical imaging system. Images generated from AFM are three-dimensional surface profiles, offering an advantage over the flat, two-dimensional images from other imaging techniques.
The AFM Probe
The probe is regarded as the heart of any AFM setup and comprises the...
The AFM Probe
The probe is regarded as the heart of any AFM setup and comprises the...
Frictional Force
When a body is in motion, it encounters resistance because the body interacts with its surroundings. This resistance is known as friction, a common yet complex force whose behavior is still not completely understood. Friction opposes relative motion between systems in contact, but also allows us to move. Friction arises in part due to the roughness of surfaces in contact. For one object to move along a surface, it must rise to where the peaks of the surface can skip along the bottom of the...


