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Updated: May 4, 2026

Atom Probe Tomography Studies on the CuIn,GaSe2 Grain Boundaries
Published on: April 22, 2013
Dinh Loc Duong1, Gang Hee Han, Seung Mi Lee
1Sungkyunkwan Advanced Institute of Nanotechnology, Sungkyunkwan University, Suwon 440-746, South Korea.
この研究では,サンプル移転なしに,広面積のグラフェン粒子の境界を視覚化するための光学顕微鏡の方法を導入しています. この技術は,これらの境界が電気的性質と機械的完全性にどのように影響するかを明らかにし,材料科学のための新しいツールを提供します.
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