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Atomic Force Microscopy01:08

Atomic Force Microscopy

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Atomic force microscopy (AFM) is a type of scanning probe microscopy that can analyze topographic details of various specimens like ceramics, glass, polymers, and biological samples. AFM offers over 1000 times more resolution than the optical imaging system. Images generated from AFM are three-dimensional surface profiles, offering an advantage over the flat, two-dimensional images from other imaging techniques.
The AFM Probe
The probe is regarded as the heart of any AFM setup and comprises the...
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Fabrication of Silica Ultra High Quality Factor Microresonators
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Fabrication of Silica Ultra High Quality Factor Microresonators

Published on: July 2, 2012

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シリコンの微機械的共振器から圧縮された光.

Amir H Safavi-Naeini1, Simon Gröblacher, Jeff T Hill

  • 1Kavli Nanoscience Institute and Thomas J. Watson, Sr, Laboratory of Applied Physics, California Institute of Technology, Pasadena, California 91125, USA.

Nature
|August 9, 2013
PubMed
まとめ

研究者は,マイクロチップシステムから圧縮された光発電を実証し,測定ノイズを軽減しました. 固体光学学におけるこの量子測定の進歩は,精度計測学の応用への道を開く.

科学分野:

  • 量子力学は,量子力学という
  • オプトメカニクス オプトメカニクス
  • 固体物理学 固体物理学とは

背景:

  • 量子測定は,システムダイナミクスを根本的に変化させます.
  • 圧縮された光は,真空の下の量子変動で,光学的読み出しノイズを減らすことができます.
  • 以前の圧縮光発電のデモでは,超冷たい原子が使われた.

研究 の 目的:

  • 固体光学機械システムの連続的な位置測定を実証する.
  • そのようなシステムから圧縮された光を生成する.
  • 精密計測学の応用を探求する.

主な方法:

  • シリコンマイクロチップのオプトメカニカルシステムを製造し,マイクロメカニカル共振器とナノフォトニックの空洞を組み合わせました.
  • レーザー光を用いて,共振器の位置を継続的に測定する.
  • ホモダイネ検出を用いて,反射光の変動スペクトルを分析した.

主要な成果:

  • 真空の騒音レベルを下回る反射光の4.5%の圧縮が観察されました.
  • 圧縮は,28MHzの機械的共鳴周波数周辺のいくつかのメガヘルツの帯域幅で測定されました.
  • 機械的共振器が非常に興奮した熱状態 (10^4フォノン) にいるにもかかわらず,圧縮が実証されました.

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結論:

  • 固体光学における継続的な測定は,圧縮された光を生成することができます.
  • 統合されたマイクロスケールデバイスは,精度計測学の可能性を示しています.
  • さらに改善すれば,チップ内での圧縮光発電が大きくなる可能性があります.