編集者訂正: 次の世代のチップ上のシステムのためのシリコンナノエレクトロニクスと光学を統合
Amir H Atabaki1, Sajjad Moazeni2, Fabio Pavanello3,4,5
1Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, USA. atabaki@mit.edu.
この手紙には,著者の所属と用語に関する訂正が含まれています. オキシドの厚さに関する繰り返し誤った属性やフレーズを含むエラーがオンラインで修正されました.
科学分野:
- 材料科学
- ナノテクノロジー
- 半導体物理学
背景:
- 最近の手紙には 作者の所属関係や特定の用語に関する 制作上の誤りがありました
- 誤った作家の属性と 軽微な文法エラーが特定されました.
研究 の 目的:
- 作者の関連を 正式に修正し,更新する.
- 正確さのために特定のテクニカルフレーズを訂正する.
主な方法:
- 出版記録の関連情報を修正する.
- "二つのオキシドの厚さ変数"を"二つのゲートのオキシドの厚さ変数"に変更する.
主要な成果:
- 作者の属性はオンラインで正確に更新されています.
- テクニカル記述では"ゲートオキシドの厚さ変数"を正しく指定しています.
結論:
- 科学的記録は 著者の貢献に関して 今では正確です
- 明確さと再現性のために正確な技術的な言語を保証します.
さらに関連する動画
10:51Fabrication and Validation of an Organ-on-chip System with Integrated Electrodes to Directly Quantify Transendothelial Electrical Resistance
Published on: September 26, 2017
14:09High-Throughput Total Internal Reflection Fluorescence and Direct Stochastic Optical Reconstruction Microscopy Using a Photonic Chip
Published on: November 16, 2019
関連する概念動画
Distance Corrections
Power Factor Correction
The Integrated Rate Law: The Dependence of Concentration on Time
Integration by Parts: Indefinite Integrals
Integration by Parts: Definite Integrals
NMR Spectrometers: Resolution and Error Correction
