Jove
Visualize
お問い合わせ
JoVE
x logofacebook logolinkedin logoyoutube logo
JoVEについて
概要リーダーシップブログJoVEヘルプセンター
著者向け
出版プロセス編集委員会範囲と方針査読よくある質問投稿
図書館員向け
推薦の声購読アクセスリソース図書館諮問委員会よくある質問
研究
JoVE JournalMethods CollectionsJoVE Encyclopedia of Experimentsアーカイブ
教育
JoVE CoreJoVE BusinessJoVE Science EducationJoVE Lab Manual教員リソースセンター教員サイト
利用規約
プライバシーポリシー
ポリシー

関連する概念動画

Super-resolution Fluorescence Microscopy01:37

Super-resolution Fluorescence Microscopy

12.1K
Super-resolution fluorescence microscopy (SRFM) provides a better resolution than conventional fluorescence microscopy by reducing the point spread function (PSF). PSF is the light intensity distribution from a point that causes it to appear blurred. Due to PSF, each fluorescing point appears bigger than its actual size, and it is the PSF interference of nearby fluorophores that causes the blurred image. Various approaches to achieving higher resolution through SRFM have recently been...
12.1K

こちらも読む

関連記事

共著者、ジャーナル、引用グラフによってこの研究に関連する記事。

並び替え
Same author

Colloidal Quantum Dot Electrochemiluminescence: From Confined Excitons to Mechanism-Guided Bioanalysis.

Nano letters·2026
Same author

Transporter-Mimicking MXene for Uric Acid Capture and Sensing in Biofluids.

Journal of the American Chemical Society·2026
Same author

Recent Advances in Electrochemiluminescence Imaging Applications.

Chemical & biomedical imaging·2026
Same author

Bipolar Electrochemiluminescence at Single Gold Microbeads Trapped by Micropipettes.

Chemical & biomedical imaging·2026
Same author

Tracking Dynamic Variations of Reactive Oxygen Species and Temperature during Ferroptosis-Induced Hepatic Stellate Cell Activation.

ACS nano·2026
Same author

Electrostatic-Driven Nucleobase Discrimination by Covalent Organic Framework Nanosheets for Deoxyribonucleic Acid Methylation Profiling.

Journal of the American Chemical Society·2026

関連する実験動画

Updated: Dec 31, 2025

Author Spotlight: Tracking Electrochemistry on Single Nanoparticles with Surface-Enhanced Raman Scattering Spectroscopy and Microscopy
10:59

Author Spotlight: Tracking Electrochemistry on Single Nanoparticles with Surface-Enhanced Raman Scattering Spectroscopy and Microscopy

Published on: May 12, 2023

3.3K

垂直ナノスケール解像度の電気化学発光自己干渉光譜

Yafeng Wang1, Weiliang Guo1, Qian Yang1

  • 1Institute of Analytical Chemistry, Department of Chemistry , Zhejiang University , Hangzhou 310058 , China.

Journal of the American Chemical Society
|January 9, 2020
PubMed
まとめ

新しい電気化学発光自己干渉スペクトロスコーピ (ECLIS) 技術は,ナノスケールのルミノフォールと電極表面の間の距離を正確に測定します. この方法では,分子リンク器の形状とECL発射層の厚さを明らかにします.

科学分野:

  • 電気化学
  • スペクトロスコーピー
  • ナノテクノロジー

背景:

  • 電気発光 (ECL) はセンサーと画像処理に不可欠です.
  • 電子界面のナノスケール構造を 正確に特徴づけるのは依然として困難です

研究 の 目的:

  • 電子面での高解像度の垂直測定のための新しいECL技術を開発する.
  • ルミノフォアと電極の距離を判定し,分子結合体の形状を分析する.
  • 溶液ベースのシステムのECL放出層の厚さを推定する.

主な方法:

  • 電気化学発光自己干渉光譜 (ECLIS) の開発
  • 直接と反射されたECL信号のスペクトル解析を使用します.
  • 理論的分析のためのマトリックス伝播モデルの適用.

主要な成果:

  • ECLISはナノメートルスケールの 垂直解像度を実現します
  • DNAリンクヤーで組み立てられたルミノフォアの高さを成功裏に決定した.
  • 推定ECL放射層の厚さ (350nmから1μm) は,Ru(bpy) 32+濃度に依存する.

結論:

さらに関連する動画

High Resolution Phonon-assisted Quasi-resonance Fluorescence Spectroscopy
10:40

High Resolution Phonon-assisted Quasi-resonance Fluorescence Spectroscopy

Published on: June 28, 2016

7.9K
Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM
08:31

Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM

Published on: February 10, 2021

7.4K

関連する実験動画

Last Updated: Dec 31, 2025

Author Spotlight: Tracking Electrochemistry on Single Nanoparticles with Surface-Enhanced Raman Scattering Spectroscopy and Microscopy
10:59

Author Spotlight: Tracking Electrochemistry on Single Nanoparticles with Surface-Enhanced Raman Scattering Spectroscopy and Microscopy

Published on: May 12, 2023

3.3K
High Resolution Phonon-assisted Quasi-resonance Fluorescence Spectroscopy
10:40

High Resolution Phonon-assisted Quasi-resonance Fluorescence Spectroscopy

Published on: June 28, 2016

7.9K
Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM
08:31

Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM

Published on: February 10, 2021

7.4K
  • ECLISは,インターフェースで分子構成データを取得するための簡単な方法を提供します.
  • この技術は,電極表面の近くのECL反応機構の洞察を提供します.
  • ECLISはナノスケールのインターフェイス分析に役立つツールです.