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Atomic Force Microscopy

Atomic Force Microscopy

Atomic force microscopy (AFM) is a type of scanning probe microscopy that can analyze topographic details of various specimens like ceramics, glass, polymers, and biological samples. AFM offers over 1000 times more resolution than the optical imaging system. Images generated from AFM are three-dimensional surface profiles, offering an advantage over the flat, two-dimensional images from other imaging techniques.
The AFM Probe
The probe is regarded as the heart of any AFM setup and comprises the...

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渦巻きマイクロレーザーの超高速制御

Can Huang¹, Chen Zhang¹, Shumin Xiao^1,2

¹State Key Laboratory on Tunable Laser Technology, Ministry of Industry and Information Technology Key Laboratory of Micro-Nano Optoelectronic Information System, Shenzhen Graduate School, Harbin Institute of Technology, Shenzhen 518055, China.

Science (New York, N.Y.)

|February 29, 2020

まとめ

超高速光学スイッチングのための新しいペロブスキート渦巻きマイクロレーザーを開発しました. これらのレーザーは,渦巻きと線形偏光線の間で高速で低エネルギーで切り替えることができ,光通信とコンピューティング技術を進歩させました.

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科学分野:

フォトニクスとナノテクノロジー
量子情報科学

背景:

統合された構造光源は量子情報処理とクラシック情報処理に不可欠です
既存の渦状マイクロレーザーは静的であり,高いレージングスリーフを持つため,高速アプリケーションでの使用を制限しています.

研究の目的:

ペロブスキートベースの渦巻きマイクロレーザーを導入します.
室温で超高速な全光学スイッチングの適用を実証する.

主な方法:

マイクロレーザーの製造に使用されたペロブスキート材料.
模様対称性と遠場特性を利用してビームを切り替える.
スイッチングの動態とエネルギー消費の調査

主要な成果:

渦巻きと線形に偏ったビームの間で切り替え可能なレーザーを達成した.
1〜1.5ピコ秒の超高速のスイッチングタイムが実証されています.
観測されたエネルギー消費量は,以前の方法よりも大きい.

結論:

スイッチ可能な出力を持つ新しいペロブスキート渦巻マイクロレーザーを開発しました.
低エネルギー消費と高速ナノフォトニクスとのトレードオフを克服しました
先進的な光学技術のためのテラヘルツ周波数で切り替え可能なマイクロレーザーが導入されました.