Interfacial Electrochemical Methods: Overview
Types of Semiconductors
Metal-Semiconductor Junctions
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Updated: Oct 6, 2025

Atom Probe Tomography Studies on the CuIn,GaSe2 Grain Boundaries
Published on: April 22, 2013
Songhua Cai1, Jun Dai2, Zhipeng Shao3
1Department of Applied Physics, The Hong Kong Polytechnic University, Hong Kong SAR 999077, People's Republic of China.
ペロブスキート半導体におけるイントラグランインターフェースの理解は極めて重要です. この研究は,それらの原子構造と電子特性を明らかにし,それらは大抵良性であるが,欠陥によって影響され得ることを示している.
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