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Qi Guo1, Mingjiang Zhang1, Zhi Tong1
1Division of Nanomaterials & Chemistry, Hefei National Research Center for Physical Sciences at the Microscale, Department of Chemistry, University of Science and Technology of China, Hefei230026, China.
研究者らは,円形の偏光光源 (CPL) 材料を用いて,高度な偽造防止タグを開発しました. これらの新しいセキュリティ素材は,世界規模で偽造を防ぐために,マルチモダル対応の,破れない認証を提供します.
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