Metal-Semiconductor Junctions
Biasing of Metal-Semiconductor Junctions
P-N junction
Biasing of P-N Junction
Interfacial Electrochemical Methods: Overview
MOSFET: Enhancement Mode
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Zhi-Guo Tao1,2, Shihan Deng1,2, Oleg V Prezhdo3,4
1Key Laboratory for Computational Physical Sciences (MOE), State Key Laboratory of Surface Physics, Institute of Computational Physical Sciences and Department of Physics, Fudan University, Shanghai 200433, China.
滑動性フェロ電気材料は,ホモ結合で電荷分離を可能にします. この研究は,スライディングが刺激状態のキャリアを, 堅固な層間移転, 電子機器のための新しいアプローチを明らかにします.
05:39Scalable Quantum Integrated Circuits on Superconducting Two-Dimensional Electron Gas Platform
Published on: August 2, 2019
11:27Single-Molecule Förster Resonance Energy Transfer Methods for Real-Time Investigation of the Holliday Junction Resolution by GEN1
Published on: September 18, 2019
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