レーザー溶接および添加物製造中の鍵穴の不安定性の磁気調節
Xianqiang Fan1,2, Tristan G Fleming3, Samuel J Clark4
1Mechanical Engineering, University College London, London, UK.
まとめ
レーザー溶接とLPBFの鍵穴の不安定さは,フロー渦の突起によって引き起こされます. 横断磁場は,鍵穴のダイナミクスを制御するために不可欠な熱電磁気動力学 (TEMHD) の流れを作成することによって,この不安定性を抑制します.
科学分野:
- 材料科学
- 物理学
- 製造エンジニアリング
背景:
- 鍵穴の不安定さは,崩壊と孔形成によって特徴付けられ,レーザー溶接とレーザー粉末床融合 (LPBF) で重要な課題です.
- 鍵穴の不安定性を引き起こす基本的なメカニズムの理解は,添加物製造と溶接におけるプロセス信頼性と部品品質の改善に不可欠です.
研究 の 目的:
- キーホールの不安定性の主要な原因を特定するために,レーザーベースの材料処理.
- 鍵穴の不安定性を抑制する横断磁場の有効性を調査する.
- 不安定を抑制する基礎的な物理的メカニズム,特に熱電磁力学 (TEMHD) を解明する.
主な方法:
- 高速のX線画像を用いて 鍵穴の動態をリアルタイムで 視覚化し分析しました
- 鍵穴の動作に及ぼす影響を観察するために,レーザー相互作用領域に横断磁場を適用しました.
- 分析は流れ渦の形成,鍵穴の壁の突起,振動に焦点を当てた.
主要な成果:
- 鍵穴の壁のフロー・ヴォルテックス誘発の突起は鍵穴の不安定性の重要なイニシアターとして特定されました.
- 横断磁場を適用することで,二次的なTEMHDの流れを誘導することで,鍵穴の不安定性を効果的に抑制しました.
- TEMHDの流れは,ネットフローの渦を修正し,突起を減らし,大きな幅の鍵穴の振動を緩和します.
- 抑制効率は,シーベック効果によるローレンツ力によるレーザースキャン方向と磁場方向の相互作用に依存する.
結論:
- 熱電磁水力学 (TEMHD) は,レーザー材料処理における鍵穴の不安定性を制御するための実行可能なメカニズムを提供します.
- 磁場適用の有効性は,スキャン方向や材料特性 (シーベック係数) などのプロセスパラメータに敏感です.
- LPBFの長さスケールでは,TEMHDはメルトプールのダイナミクスを管理し,欠陥を防止する主要な要因になります.


