Hans Gunstheimer1,2, Gotthold Fläschner2,3, Jonathan D Adams2

  • 1Institute of Microstructure Technology, Karlsruhe Institute of Technology (KIT), P.O. Box 3640, 76021, Karlsruhe, Germany.

まとめ

この研究では,原子力顕微鏡 (AFM) 力のスペクトロスコーピーを加速するために光熱オフ共振タッピング (PORT) を導入します. この新しい方法は,様々な材料の高通量ナモメカニカルマッピングを可能にします.