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Gang Wu1, Jun-Hao Wan1, Chen Qian1

  • 1Hefei National Laboratory for Physical Sciences at the Microscale, Department of Environmental Science and Engineering, University of Science and Technology of China, Hefei 230026, China.

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まとめ

プラズモンの散乱インターフェロメトリック顕微鏡 (PSIM) は,インターフェースのナノ材料の高解像度イメージングを提供します. この技術は,単一のナノ粒子の変換と電気化学的プロセスをリアルタイムで観測し,ナノ科学の研究を進めます.