Bingjie Wang1, Chuanli Yu2, Yifan Jiang1

  • 1Key Laboratory for the Physics and Chemistry of Nanodevices, School of Electronics, Peking University, Beijing, China.

Nature communications
|August 29, 2025
PubMed
まとめ

機械的ストレスにより,六角性ボンナトリド (hBN) ナノシートが弱まり,その介電強度が低下し,漏れ電流が増加します. この効果は,より薄い hBN でより顕著であり,2D 電子機器におけるストレスを最小限に抑える必要性を強調しています.