水素生成原子光スペクトロメトリー (HG-AFS) を用いて,米粒の総和および無機の正確な急速スクリーニング

Bin Chen1, Warren T Corns1, Peter B Stockwell1

  • 1PS Analytical, Unit 3 Crayfields Industrial Estate, Orpington, BR5 3HP, UK. bc@psanalytical.com.

まとめ

2つの急速な方法は,水素生成原子光スペクトロメトリーを使用して,米の総和および無機 (As) を正確にスクリーンします. これらの検証された技術は,食品の安全性および品質管理のための正確なヒ素分析を提供します.