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Brenna C Bierman1, Gillian Nolan2, Hongrui Ma3
1Department of Chemistry, University of Wisconsin-Madison, Madison, Wisconsin 53706, United States.
タンタール・デセレニド (SnxTaSe2) の構造的異質性は,単結晶X線 difraktion (SCXRD) とスキャニング伝送電子顕微鏡 (STEM) のような高度な技術によって明らかにされました. 通常の方法は,この多様性を検出できず,層状の材料の高解像度の特徴づけの必要性を強調しました.
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