Field Effect Transistor
MOSFET: Enhancement Mode
MOSFET
MOSFET: Depletion Mode
Biasing of FET
Non-ohmic Devices
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共著者、ジャーナル、引用グラフによってこの研究に関連する記事。
Sijung Yoo1, Taek Jung Kim1, Seung-Geol Nam1
1Thin Film Technical Unit, Device Research Center, Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT), Samsung Electronics, Suwon, Korea.
No abstract available in PubMed .