有限要素解析に基づくスペックル干渉測定シミュレーションによる欠陥検出の自動化

科学分野:

• 光学測定法
• 非破壊検査
• 計算力学

背景:

• スペックルホログラフィーおよびシアログラフィーは貴重な測定ポテンシャルを提供しますが、複雑なセットアップと手動分析のために十分に活用されていません。
• 光学測定技術の普及には、自動分析と単純化されたパラメータ設定が不可欠です。
• 既存の方法では、産業現場での自動欠陥認識に必要な効率が不足しています。

研究 の 目的:

• 有限要素解析（FEA）に基づいてスペックル干渉測定結果をモデル化するシミュレーションコードを開発すること。
• スペックル干渉測定のパラメータ最適化を改善すること。
• 自動欠陥検出のための機械学習（ML）モデルを開発するためのデータセットを生成すること。

主な方法:

• 変位データを生成するための有限要素解析（FEA）。
• FEAの結果からスペックル干渉縞パターンをモデル化するシミュレーションコードの開発。
• 機械学習アルゴリズムのトレーニングと検証のための合成データセットの作成。

主要な成果:

• スペックル干渉縞パターンのシミュレーションに成功しました。
• 測定精度のためのパラメータ設定の改善を実証しました。
• 機械学習ベースの欠陥認識のための基礎データセットを生成しました。

結論:

• スペックル干渉測定のシミュレーションは、その応用の実際的な課題に対処できます。
• 開発されたシミュレーションは、測定パラメータの最適化とトレーニングデータの作成に役立ちます。
• このアプローチは、産業用途向けの自動欠陥検出システムの開発を容易にします。