Phase Contrast and Differential Interference Contrast Microscopy
Atomic Force Microscopy
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Sibi Chakravarthy Shanmugavel1, Shwetadwip Chowdhury1
1Department of Electrical and Computer Engineering, University of Texas at Austin.
新しいイメージングシステムは、オンチップセンサーと計算位相回復を使用して、コスト効率が高く、大規模な視野の位相イメージングを実現します。このブレークスルーは、高度なイメージングアプリケーションへの簡単なアプローチを提供します。
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