Overview of Microscopy Techniques
Scanning Electron Microscopy
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Updated: Jan 13, 2026

Scanning-probe Single-electron Capacitance Spectroscopy
Published on: July 30, 2013
Kim McKelvey1, Martin Andrew Edwards2, Minkyung Kang3,4
1MacDiarmid Institute for Advanced Materials and Nanotechnology, School of Chemical and Physical Sciences, Victoria University of Wellington, Wellington 6012, New Zealand.
この研究は、柔軟でオープンソースの走査型電気化学プローブ顕微鏡(SEPM)装置を発表します。この適応性の高いSEPMシステムは、最小限のユーザープログラミングでさまざまな表面および界面分析を可能にし、新規および専門の研究者の両方に役立ちます。
08:31Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM
Published on: February 10, 2021
12:18Co-localizing Kelvin Probe Force Microscopy with Other Microscopies and Spectroscopies: Selected Applications in Corrosion Characterization of Alloys
Published on: June 27, 2022
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