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Vedran Vonk1, Steffen Tober2, Steven J Leake3
1Centre for X-ray and Nano Science CXNS Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY Notkestraße 85 22607 Hamburg Germany.
精密なアライメントは、ナノスケールでの ગ્રેઝિંગ-incidence X線測定の鍵となります。本研究では、サンプル位置をX線ビーム内に維持するための1次元トラジェクトリスキャン法を導入し、反射率データの精度を向上させます。
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