: X difrraction

Yuxing Fei1,2, Matthew J McDermott2, Christopher L Rom3

  • 1Department of Materials Science & Engineering, University of California, Berkeley, California 94720, United States.

Chemistry of materials : a publication of the American Chemical Society
|February 16, 2026
PubMed
まとめ

多相材料の粉末X線 difrraction (XRD) 分析は,新しいフレームワークであるDaraによって自動化されています. このデータベースのアプローチは,フェーズ識別の正確性と信頼性を高め,手作業の労力を軽減します.