Zhong-Jie Wang1,2, Tao Liu1,2, Xue-Lu Liu1,2

  • 1State Key Laboratory of Semiconductor Physics and Chip Technologies, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China.

PubMed
まとめ

この研究は,グラフェンを用いたコンフォカルラーマン顕微鏡で横向空間解像度 (LSR) を測定する新しい方法を示しています. 最適なLSRは,ナノスケールのイメージングに不可欠な,正確なレーザーフォーカシングとピンホールサイズに依存します.