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電子マイクロプローブX線分析用固体エネルギー分散スペクトロメーター
Science (New York, N.Y.)
|February 2, 1968
まとめ
改良されたシリコン検出器は,X線の精密な検出とエネルギー分散を可能にすることで,電子-マイクロプローブX線分析を強化します. この進歩により,原子番号が類似した元素であっても,サンプルを詳細に元素分析することができます.
科学分野:
- マテリアルサイエンス 材料科学
- アナリティカル・ケミストリー (Analytical Chemistry) とは
- 物理 物理学 物理学とは
背景:
- 電子微波X線分析 (EMXRA) は,元素組成の決定に不可欠です.
- 精密なX線検出とエネルギー解像度は,EMXRAの重要な限界です.
研究 の 目的:
- EMXRAにおけるリチウム駆動シリコン固体探知器の性能を評価する.
- これらの検出器の要素の識別と定量化のための能力を評価する.
主な方法:
- リチウム駆動型シリコン固体探知器を電子マイクロプローブX線分析器内で改良して利用した.
- マルチチャネルアナライザーを使用して,未知のサンプルから放射されるX線スペクトルの記録.
- 測定されたX線エネルギーは3〜30キロ電子ボルトの範囲です.
主要な成果:
- 3〜30 keVのX線の効果的な検出とエネルギー分散を達成しました.
- 隣接する元素の特徴的なX線ピークを区別するのに十分なエネルギー解像度を示した (原子番号 ≥20).
- 約60秒以内に未知のサンプルから完全なX線スペクトルを取得しました.
結論:
- 改良された検出器は,EMXRAの機能を大幅に強化します.
- 近い原子番号を持つ元素の区別を含む精密な元素分析を可能にします.
- さまざまなサンプルの素質組成分析を迅速かつ効率的に提供します.