P Eisenberger, B M Kincaid
シンクロトロン放射による拡張X線吸収微細構造 (EXAFS) 分析は,材料構造を決定するための強力な方法を提供します. この技術は,新しいシンクロトロン源によって急速に進歩しており,構造科学における重要な将来の発展を約束しています.
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