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まとめ
スキャニング電子顕微鏡 (SEM) は,標準のヒストロジースライドと格闘しています. 新しい方法は,ガラスのスライドから画像セクションへのカトドロルミネスセンスを使用し,高解像度スキャン電子顕微鏡 (SEM) 分析のための表面歪みを克服します.
科学分野:
- マテリアルサイエンス 材料科学
- 顕微鏡による顕微鏡検査
- ヒストロジー ヒストロジー ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ ヒストロジ
背景:
- スキャニング電子顕微鏡 (SEM) は,表面に敏感な二次電子イメージングのため,組織学的サンプルには限られています.
- 従来のSEMイメージングは,処理および切断された組織学的断面の実際の構造を歪める.
- 逆分散電子 (BSE) を使用する既存の方法は,不透明な基板を必要とし,相関光顕微鏡を防ぐ.
研究 の 目的:
- 光顕微鏡よりも優れた解像度でSEMにおける組織学的断面のイメージングのための方法を開発する.
- 光顕微鏡とSEMの両方を用いて同じ組織学的セクションの相関イメージングを可能にします.
- 生物学的組織のためのSEMにおける表面ベースのイメージングの限界を克服するために.
主な方法:
- 標準的なガラス顕微鏡のスライドから放出されるカソドロルミネスセンスの (CL) 信号を利用する.
- 画像信号の強度を測定するために,組織学部を通過する電子フックスを用いる.
- ガラスのスライドに搭載された7マイクロメートルの厚さの組織学的断面を,SEMを用いて5〜20keVでイメージングします.
主要な成果:
- 組織学的断面のための従来の光顕微鏡の画像解像度を超えるSEM画像解像度を達成しました.
- グラス・スライドのカトドロルミネスセンスは,標本を通して伝達される電子流量に比例することを実証した.
- 透明ガラスのスライドにマウントされた組織学的断面の相関画像を有効にしました.
結論:
- SEMにおけるガラスマウントされた組織学的断面のカトドロルミネスセンスのイメージングは,従来の方法に対する貴重な代替手段を提供します.
- この技術は光顕微鏡よりも高い解像度を提供し,光顕微鏡画像との直接的な相関を可能にします.
- この方法は,組織学的サンプルに対するSEMにおける表面依存画像の限界を克服します.