レントゲンレーザーのローカルゲインと電子密度の同時測定
1Lawrence Livermore National Laboratory, University of California, Livermore, CA 94550, USA.
Science (New York, N.Y.)
|August 23, 1996
まとめ
実験的なX線レーザー (XRLs) は,予想よりも低い得点と空間的一貫性を示しています. 新しい測定は,ローカル・ゲインにおける予期せぬ空間的不均一性を明らかにし,XRLの性能におけるこれらの不一致を説明している.
科学分野:
- プラズマ物理学のプラズマ物理学
- レーザー科学はレーザー科学です.
- 原子物理学 原子物理学とは
背景:
- X線レーザー (XRLs) は,理論的な計算よりも実験的な利益が低いことを示しています.
- XRLsの持続的な問題は,空間的な一貫性の低いレベルである.
研究 の 目的:
- 計算されたXRL値と実験的なXRL値の不一致の原因を調査する.
- XRLの空間的一貫性が低い原因を理解するために.
- XRLプラズマ内の局所的な増強と密度プロフィールを測定するために.
主な方法:
- 短い増幅器とインターフェローメーターのビームの両方の注入信号としてXRLを使用しました.
- XRLプラズマの2次元の局所加減と密度プロフィールを測定しました.
- 約1マイクロメートルの空間解像度を達成しました.
主要な成果:
- 測定された局所増益は原子モデルと一致する.
- 予想外の空間的不均一性が,局所的な増益で観察されました.
- この不均一性は,空間的な一貫性が低いことと直接相関しています.
結論:
- ローカル・ゲインの空間的不均一性は,XRLの空間的一貫性が低い主な原因として特定されています.
- この発見は,観察されたXRLの増加とシミュレーションされたXRLの増加の間の違いを調和させるのに役立ちます.
