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電流の流れを再構築し,ポリ結晶超伝導フィルムの電流制限欠陥のイメージングを行う

Pashitski1, Gurevich, Polyanskii

  • 1A. E. Pashitski, A. Gurevich, A. A. Polyanskii, D. C. Larbalestier, Applied Superconductivity Center, University of Wisconsin, Madison, WI 53706, USA. A. Goyal, E. D. Specht, D. M. Kroeger, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831, USA. J. A. DeLuca and J. E. Tkaczyk, General Electric, Schenectady, NY 12301, USA.

Science (New York, N.Y.)
|January 17, 1997
PubMed
まとめ

高角粒子の境界は,TlBa2Ca2Cu3Oxフィルムにおける超電流の流れを著しく制限する. 磁気光学画像は,局所的な変動ではなく,これらの境界線が,全体的な臨界電流密度を決定することを明らかにしました.

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