Mark J Henson1, Michael A Vance, Christiana Xin Zhang
1Department of Chemistry, Stanford University, Stanford, California 94305-5080, USA.
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这项研究表明,增加铜氧化物复合体中配体的供体强度会削弱铜氧键. 更强大的供体连接体也有利于形成比斯-穆-奥克索-二铜 (III) 而不是氧-二铜 (II) 的物种.
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