Updated: Jun 25, 2026

Writing and Low-Temperature Characterization of Oxide Nanostructures
Published on: July 18, 2014
R M Costescu1, D G Cahill, F H Fabreguette
1Department of Materials Science and Engineering and Frederick Seitz Materials Research Laboratory, University of Illinois, Urbana, IL 61801, USA.
研究人员创建了具有超低导热性的W/Al2O3薄膜多层. W和Al2O3层之间的高密度接口阻碍了热传输,这表明了热屏障材料的新途径.
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