在使用点接触方法与扫描道显微镜进行单分子导电性测量时观察到的S/Se定的键体波动
Satoshi Yasuda1, Shoji Yoshida, Jiro Sasaki
1Institute of Applied Physics, CREST-JST, 21st Century COE, University of Tsukuba, Tsukuba 305-8573, Japan.
Journal of the American Chemical Society
|June 15, 2006
概括
使用扫描道显微镜测量单个分子导电量. 观察到的电导率变化表明,黄金表面的吸附点上的动态键值波动.
科学领域:
- 表面科学是一门学科.
- 纳米技术纳米技术
- 分子电子学分子电子学
背景情况:
- 了解单分子电子特性对于开发分子器件至关重要.
- 硫 (S) 和 (Se) 是分子-表面接口的常见定组.
- 金 (Au) 表面是用于分子电子学研究的广泛使用的平台.
研究的目的:
- 测量固定在金面上的单个分子的电导率.
- 在单个分子层面研究分子-表面相互作用的稳定性和动态.
主要方法:
- 使用扫描道显微镜 (STM) 采用点接触方法.
- 对选定的单个分子进行了反复的导电量测量.
- 使用的S/Se固组用于将分子附着在Au表面.
主要成果:
- 成功测量了单分子导电性.
- 在连续测量过程中观察到明显导电率的变化.
- 这些变化表明分子和吸附点之间的动态键波动.
结论:
- 使用STM,单分子导电性测量是可行的.
- 分子-表面结合不是静态的,并且表现出波动.
- 这一发现对分子电子元件的稳定性和性能有影响.


