Joëlle Fréchette1, Carlo Carraro
1Chemical Engineering Department, University of California, Berkeley, CA 94720, USA. jfrechette@jhu.edu
碳化纳米线显示出对恶劣应用的前景. 孔焦拉曼光谱通过分析表面和散装信号,利用极化异质性来揭示详细的组成和缺陷.
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