X线

Science (New York, N.Y.)
|May 7, 1993
PubMed
概括

高分辨率的X射线断层扫描揭示了在化学蒸气透过程中,碳化如何在陶矩阵复合材料中生长. 这项研究验证了一种预测矩阵沉积表面积的模型,这对于复合微观结构的开发至关重要.