X线:,

Science (New York, N.Y.)
|June 24, 1994
PubMed
概括

研究人员开发了一种X射线表面力装置,用于测量受限复杂流体中的力和结构. 这个系统揭示了在剪切下液晶膜中的新型分子方向,包括以前被禁止的方向.