Total Internal Reflection Fluorescence Microscopy
Atomic Force Microscopy
Overview of Microscopy Techniques
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U Kemiktarak1, T Ndukum, K C Schwab
1Department of Physics, Boston University, Boston, Massachusetts 02215, USA.
这项研究通过测量来自共振电路的反射信号,将扫描道显微镜 (STM) 的时间分辨率提高到10 MHz. 这一突破使得更快的表面成像和敏感的纳米尺度测量成为可能.
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