用现场热圆测量评估的中介结构薄膜的热解,结晶和烧结

John D Bass1, David Grosso, Cédric Boissiere

  • 1Laboratoire de Chimie de la Matière Condensée de Paris, Université Pierre et Marie Curie-Paris 6 and CNRS, 4 place Jussieu, 75252 Paris 05, France.

概括

现场热圆测揭示了加热时间表和薄膜组成如何影响薄膜. 这种方法为高级功能片提供了对控制材料性质的化学过程的详细见解.

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