连接单分子电气测量到集体光谱性质,以量化单壁碳纳米管分离

Woo-Jae Kim1, Chang Young Lee, Kevin P O'brien

  • 1Department of Chemical Engineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, Massachusetts 02139, USA.

概括

研究人员精确地测量了金属与半导体单壁碳纳米管 (SWNT) 的灭绝系数比率. 这项研究为SWNT设备制造过程中产生的缺陷提供了第一个定量评估.