Samuel A Meek1, Horst Conrad, Gerard Meijer

  • 1Fritz-Haber-Institut der Max-Planck-Gesellschaft, Faradayweg 4-6, D-14195 Berlin, Germany.

Science (New York, N.Y.)
|June 27, 2009
PubMed
概括

研究人员展示了一种新的捕捉一氧化碳分子的方法,使用芯片上的电场陷. 这一突破使得各种极性分子在芯片上的气相分子实验室成为可能.

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