使用光发光:MOF-5,ZnO量子点和框架分解来评估金属有机框架的纯度

Patrick L Feng1, John J Perry, Stefan Nikodemski

  • 1Sandia National Laboratories, Livermore, California 94551-0969, USA.

概括

光发光 (PL) 谱学揭示了MOF-5中的杂质和分解,挑战了其半导体分类. 这种方法为粉末X射线衍射 (XRD) 提供了一个更快,更灵敏的替代方法,用于评估金属有机框架的纯度.