通过光电压/单颗粒光谱学研究的复合P3HT/PC60BM纳米粒子捕获和储存电荷
Zhongjian Hu1, Andre J Gesquiere
1NanoScience Technology Center, Department of Chemistry and CREOL, The College of Optics and Photonics, University of Central Florida, 12424 Research Parkway Suite 400, Orlando, Florida 32826, USA.
Journal of the American Chemical Society
|November 3, 2011
概括
光电压/单颗粒光谱检测显示,由于深层电子捕获,复合聚合物纳米粒子的可比性. 这一发现为纳米级记忆和成像设备提供了潜力.
科学领域:
- 材料科学 材料科学 材料科学
- 纳米技术纳米技术
- 物理化学 物理化学
背景情况:
- 合聚合物纳米粒子对于有机电子非常重要.
- 了解接口上的电荷传输动态是设备效率的关键.
- 刺激子-极子相互作用影响有机半导体中的电荷传输.
研究的目的:
- 为了研究激子-极子相互作用和在聚3-基烯 (P3HT) 和P3HT/PC60) BM纳米粒子中的界面电荷转移.
- 分析纯粹和复合纳米颗粒在运行中注孔装置中的行为.
- 探索这些纳米粒子在先进电子应用中的潜力.
主要方法:
- 使用光电压/单颗粒光谱 (F-V/SPS) 进行详细分析.
- 在纯P3HT纳米粒子和复合P3HT/PC(60) BM纳米粒子上进行了粒子对粒子的测量.
- 检查了功能性孔注射设备中的纳米粒子行为.
主要成果:
- 在复合P3HT/PC(60) BM纳米颗粒的光电压调制曲线中观察到明显的双稳定性,在纯P3HT纳米颗粒中不存在.
- 在复合纳米粒子中,在NP/介电接口上确定了光生成电子的明显深陷.
- 在光激发下,复合纳米粒子中确认了烯离子对孔的捕获.
结论:
- 在接口处的深电子捕获和富勒烯离子的洞捕获是复合纳米粒子中观察到的双稳定性的基础.
- 在合聚合物/富勒烯纳米粒子中发现的深度电子捕获效应为纳米级记忆和成像设备提供了机会.
- 这项研究促进了对有机纳米结构中电荷动态的理解,为未来的技术应用提供了帮助.
