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Updated: May 4, 2026

Atom Probe Tomography Studies on the CuIn,GaSe2 Grain Boundaries
Published on: April 22, 2013
Dinh Loc Duong1, Gang Hee Han, Seung Mi Lee
1Sungkyunkwan Advanced Institute of Nanotechnology, Sungkyunkwan University, Suwon 440-746, South Korea.
本研究引入了一种光学显微镜方法,可以在没有样本转移的情况下可视化大面积的石墨烯粒边界. 该技术揭示了这些边界如何影响电气性能和机械完整性,为材料科学提供了一个新的工具.
科学领域:
背景情况:
研究的目的:
主要方法:
主要成果:
结论: