多重向测序识别了自闭症谱系障碍中经常发生突变的基因
Brian J O'Roak1, Laura Vives, Wenqing Fu
1Department of Genome Sciences, University of Washington School of Medicine, Seattle, WA 98195, USA.
Science (New York, N.Y.)
|November 20, 2012
概括
研究人员使用具有成本效益的测序方法确定了与自闭症谱系障碍 (ASD) 相关的关键基因. 这项研究突出了导致ASD和相关亚型的特定基因突变.
科学领域:
- 遗传学 是一个遗传学.
- 神经科学是一个神经科学.
- 发育生物学 发展生物学
背景情况:
- 针对自闭症谱系障碍 (ASD) 的外基因测序研究已经揭示了许多新的突变,但很少有反复破坏的基因.
- 识别反复破坏的基因对于理解ASD病因和开发有针对性的干预措施至关重要.
研究的目的:
- 为大型队列开发和应用一个超低成本的候选基因再测序方法.
- 识别与自闭症谱系障碍相关的新基因和遗传变异.
主要方法:
- 一种改进的分子逆转探头方法被开发用于经济高效的再测序.
- 44个候选基因在2446名ASD试验者的队列中被捕获和测序.
主要成果:
- 在16个基因中发现了27个de novo事件,59%预计会影响蛋白质功能或拼接.
- 六个基因 (CHD8,DYRK1A,GRIN2B,TBR1,PTEN,TBL1XR1) 中经常出现的破坏性突变可能占散发性自闭症的1%.
- 支持特定基因和亚基因型之间的关联 (例如,CHD8-大脑症,DYRK1A-小脑症).
结论:
- 开发的方法使得像ASD这样的复杂疾病的高效,大规模的遗传研究成为可能.
- 包括CHD8和DYRK1A在内的特定基因与ASD病因有很大关系,并与不同的亚型相关.
- 这些发现加强了β-catenin-chromatin-remodeling网络在ASD发展中的作用.
