使.

Xiaobo Mao1, Yuanyuan Guo, Yin Luo

  • 1National Center for Nanoscience and Technology, 11 Beiyitiao Zhongguancun, Beijing 100190, China.

概括

研究人员使用扫描道显微镜 (STM) 在接口上观察了类组件. 该研究将残留与石墨表面的相互作用与STM图像中观察到的亮度相关联,为界面过程提供了洞察力.