在分子道连接处直接光学测定界面传输障碍物
Jerry A Fereiro1, Richard L McCreery, Adam Johan Bergren
1Department of Chemistry, University of Alberta, Edmonton, Alberta, Canada.
Journal of the American Chemical Society
|June 21, 2013
概括
研究人员测量了分子道连接处的光电流,以克服分子电子学的挑战. 这种方法可以直接测量接口运输障碍,促进纳米电路的开发.
科学领域:
- 分子电子学分子电子学
- 在纳米尺度科学科学.
- 有机电子学有机电子学
背景情况:
- 分子电子旨在使用有机分子创建纳米电路.
- 在接触相互作用后确定分子能量水平阻碍了进展.
- 了解接口属性对于设备性能至关重要.
研究的目的:
- 开发一种方法来测量分子连接处的能量水平.
- 为了克服接触引起的分子能量水平扰动的挑战.
- 为了能够直接测量功能分子设备中的界面传输障碍.
主要方法:
- 制造大面积的分子道连接点与铜接触.
- 在亚利法和芳香分子连接处测量光电流谱.
- 分析由内部光辐射主导的光电流.
主要成果:
- 光电频谱显示了在没有分子吸收的情况下的能量值.
- 这些门直接对应于接口运输障碍.
- 成功测量了功能分子道连接处的障碍物.
结论:
- 内部光辐射为测量界面传输障碍提供了一条可行的途径.
- 这种技术推动了分子电子技术的发展.
- 能够对纳米电子元件进行表征.


